-
-
Низька ціна через Factory-Direct
Працюйте безпосередньо з фабрикою електроніки, щоб уникнути посередників. Новий оригінал з низькою та зниженою ціною
-
Безпека та якість Надійність
Система страхування якості для чудової якості продукції. Вчасне, щоразове забезпечення якісних компонентів.
-
Понад 15 мільйонів запасів
100+ найвідоміших світових виробників, понад 15 мільйонів запасів. Доступні запаси, які можна придбати безпосередньо зі знижкою.
-
Дружнє обслуговування клієнтів
Універсальне рішення, персоналізоване відповідно до ваших унікальних вимог. Підтримка веб-сайту на 12 мовах, більше зручності та швидкі послуги.
SN74BCT8374ADW
Виробник
категорія продукту
опис
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Електронна пошта запиту пропозицій: [email protected] or Запити онлайн
Технічні характеристики
-
серії74BCT
-
пакетTube
-
статус частиниActive
-
логічний типScan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
-
напруга живлення4.5V ~ 5.5V
-
кількість бітів8
-
Робоча температура0°C ~ 70°C
-
тип монтажуSurface Mount
-
пакет / футляр24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
-
пакет пристрою постачальника24-SOIC
